“

金屬化薄膜電容器可靠性高的一個重要的特性就是其自愈能力。薄膜電容器的電極是由蒸鍍到介質(zhì)薄膜上的很薄一層金屬（通常為鋁或鋅鋁合金）組成，其厚度僅為納米量級。極薄的蒸鍍電極是薄膜電容器可靠自愈的基礎(chǔ)。

”薄膜電容器的的介質(zhì)膜中存在晶格缺陷或雜質(zhì)，由于這些缺陷或雜質(zhì)的擊穿場強低于周圍區(qū)域，因此被成為“電弱點”。當(dāng)外施電壓升高時，電弱點處介質(zhì)膜首先擊穿形成放電通道，電荷通過放電通道形成大電流，產(chǎn)生焦耳熱，使周圍金屬層受熱蒸發(fā)并向外擴散，金屬蒸汽易被形成等離子體，隨著蒸發(fā)面積擴大，等離子體放電電弧熄滅，層間薄膜恢復(fù)絕緣，這一過程成為“自愈”。自愈成功后薄膜電容器仍能繼續(xù)工作。

隨著電容器使用時間的增加，其電容量是一個緩慢下降的過程，介質(zhì)膜中的電弱點將隨著薄膜電容器充放電次數(shù)的增加逐漸增多（通俗講就是薄膜逐漸老化）。以目前應(yīng)用最廣泛的聚丙烯為例，聚丙烯微觀結(jié)構(gòu)參數(shù)之間互相影響、關(guān)聯(lián)復(fù)雜，基料中含有雜質(zhì)、空隙、非晶區(qū)、直鏈、串折疊、纖維簇、鏈端、錯位區(qū)和殘余催化劑等。這些微觀缺陷是引發(fā)薄膜介質(zhì)發(fā)生局部放電的根源，在電/熱/機械應(yīng)力長期作用下，薄膜將發(fā)生不可逆轉(zhuǎn)的絕緣老化和擊穿。對薄膜電容器來說，當(dāng)電容量下降超過15%時，此后電容量下降的速度會大大增加，介質(zhì)損耗會迅速上升，絕緣電阻大幅減小，電容器性能急劇惡化。因此，通常把電容量損失達到初始電容量的15%作為薄膜電容器壽命終結(jié)的標(biāo)志。目前有效減小自愈失敗帶來的擊穿風(fēng)險的措施之一是使用金屬化網(wǎng)格膜（又稱為安全膜）是指薄膜上的鍍層被分割成塊，有較細的金屬鍍層條相連接，當(dāng)介質(zhì)上出現(xiàn)電弱點，發(fā)生自愈時，不需要將成塊的金屬鍍層蒸發(fā)，只需熔斷金屬塊間相連的條狀鍍層，即可將含自愈點的金屬塊區(qū)域形成孤島。事實上安全膜就是指其在自愈時需要的能量很小，更加容易自愈，產(chǎn)生的熱量也小，能減小對相鄰薄膜的傷害。